冲击试样缺口投影仪 NP200

※概述：
     冲击试样缺口投影仪是根据目前国内广大用户的实际需求和GB/T229-2007《金属夏比摆锤冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器。

※性能特点：
     该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V或U型缺口轮廓放大投射到投影屏上，与投影屏上冲击试样V和U型缺口标准样板图比对，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，其优点是操作简便，检查对比直观，效率高。


 
※主要技术参数：

屏幕尺寸	200mm×200mm
放大倍率	50×
工作台尺寸	110×125mm
工作台行程	纵向：±10mm 横向：±10mm升降：±12mm
工作台转动范围	0～360°
光源（卤钨灯）	12V   100W
电源	220V   50Hz
外形尺寸	510×220×600mm
重量	22kg